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產(chǎn)品及解決方案

我們?yōu)槟峁╆P(guān)于中電科風(fēng)華的最新產(chǎn)品及解決方案

Mars 4410/Mars 4420
產(chǎn)品描述：
應(yīng)用于化合物半導(dǎo)體襯底片、外延片的全自動(dòng)缺陷檢測(cè)，并可兼容藍(lán)寶石、LED的缺陷檢測(cè)。設(shè)備采用明場(chǎng)微分干涉相差、暗場(chǎng)散射、光致發(fā)光等多種檢測(cè)手段。具有多通道同步單次檢測(cè)，低噪聲和高分辨率成像、高檢測(cè)通量和高檢出率等優(yōu)勢(shì)。
產(chǎn)品參數(shù)：
應(yīng)用范圍：SiC、GaN等化合物半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)
可測(cè)晶片尺寸：4,6,8英寸及其它非標(biāo)尺寸
聯(lián)系方式：
郵箱地址：service@zdkfh-ie.com
聯(lián)系電話：0351-6525757

解決方案

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